客服電話：400-877-1203
新品簡介
CS19010局部放電測(cè)試儀是一款適用于高壓隔離集成電路（如光耦、磁耦、隔離放大器、隔離式數(shù)字通信芯片）、半導(dǎo)體高壓開關(guān)（如IGBT、MOSFET），高頻變壓器及高壓絕緣組件（如隔離基板）、低容值高壓電容器等器件局部放電和耐壓測(cè)試的綜合測(cè)量設(shè)備，可實(shí)現(xiàn)0.1kV~10kV范圍內(nèi)耐壓測(cè)試和局部放電測(cè)試。
CS19010局部放電測(cè)試儀采用試品串聯(lián)耦合測(cè)量模式，測(cè)試方法符合通用局放測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)GB/T7354-2018 （IEC60270：2000），同時(shí)也符合特定器件的局放測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)，如光隔離器安全標(biāo)準(zhǔn)（IEC60747-5-5）、數(shù)字隔離器安全標(biāo)準(zhǔn)（IEC60747-17）、低電壓設(shè)備安全標(biāo)準(zhǔn)（IEC60664-1）、半導(dǎo)體開關(guān)組件標(biāo)準(zhǔn)（IEC 60747-15）等；具有自定義高壓輸出模式、多種測(cè)量條件合格判斷功能，用戶可根據(jù)需求柔性組合，實(shí)現(xiàn)0.01uA~1mA泄漏電流測(cè)量和1pC~10000pC局部放電測(cè)量，可滿足大多數(shù)集成隔離器件和高絕緣材料的產(chǎn)品品質(zhì)測(cè)試需求。
CS19010局部放電測(cè)試系統(tǒng)：
CS19010A主機(jī)、CS19010B局部放電測(cè)試模塊、CS19010C局部放電校準(zhǔn)器
適用標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T7354-2018（IEC60270：2000）、IEC60747-5-5、IEC60747-5-18、IEC60664-1
IEC60270：2000 method b1測(cè)試時(shí)序圖
產(chǎn)品特點(diǎn)
可用于外部電磁環(huán)境惡劣的工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)，針對(duì)工廠生產(chǎn)線可能存在的強(qiáng)干擾，CS19010在常規(guī)噪聲抑制方法基礎(chǔ)上，還采用了多種提高測(cè)試準(zhǔn)確度的方法：
工業(yè)應(yīng)用中的典型干擾
針對(duì)IEC60747-5-5提出的常規(guī)測(cè)試中100%檢測(cè)的需求，優(yōu)化系統(tǒng)架構(gòu)，以100ms刷新率高速實(shí)時(shí)顯示啟動(dòng)測(cè)試后的最大放電量，當(dāng)前測(cè)試周期的瞬時(shí)放電量、超過規(guī)定局放的次數(shù)等。
為適應(yīng)局放檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)和研發(fā)的需求，CS19010可自定義高壓輸出模式，根據(jù)需求，任意波形分段，分別設(shè)置各段的上升時(shí)長、保持（測(cè)試）時(shí)長、下降時(shí)長、預(yù)置電壓、目標(biāo)電壓、下降電壓等。
強(qiáng)大的局部放電辨識(shí)算法，具有單局放測(cè)量能力。
高可靠性，CS19010采用獨(dú)特的輸入單元保護(hù)電路，解決非接地的串聯(lián)耦合模式輸入低端易受干擾、被測(cè)品瞬間短路時(shí)的安全性問題。
局部放電校準(zhǔn)器采用Lora無線通信，由局部放電測(cè)試儀界面設(shè)置參數(shù)并啟動(dòng)校準(zhǔn)，可配置脈寬、個(gè)數(shù)、周期、重復(fù)率等參數(shù)，校準(zhǔn)啟動(dòng)后自動(dòng)調(diào)節(jié)增益、不需人為干預(yù)，一鍵完成，操作簡便。
被測(cè)品串聯(lián)耦合測(cè)試回路
推薦選型
應(yīng)用測(cè)試
CS19010局部放電測(cè)試儀的主要應(yīng)用領(lǐng)域：（1）工業(yè)生產(chǎn)，依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)在高壓器件（組件）生產(chǎn)過程中進(jìn)行局部放電常規(guī)測(cè)試或現(xiàn)場(chǎng)診斷測(cè)試；（2）科學(xué)研究，對(duì)高壓絕緣材料進(jìn)行局部放電特性研究或絕緣劣化過程研究。
測(cè)試對(duì)象：光耦、磁耦、隔離放大器、隔離式數(shù)字通信芯片、半導(dǎo)體高壓開關(guān)（如 IGBT、MOSFET），高頻變壓器、高壓絕緣組件（如隔離基板）、高壓電容器等。
